섬유 표면에서 발생하는 오염 등 품질 불량을 획기적으로 개선할 수 있는 길이 열렸다. FITI시험연구원(원장 심우정)은 “재료 표면의 특성을 분석할 수 있는 초정밀 표면 분석 장비 ToF-Mini SIMS(이차 이온질량분석기: Millbrook사)를 국내 최초로 구축해 제품의 중요 특성을 결정하는 오염, 황변, 부식, 품질 불량 등 표면에서 발생될 수 있는 문제들에 대해 근원적인 해결책을 제공할 수 있게 됐다”고 밝혔다. 물질의 표면은 항상 외부와 접하고 있어 화학적, 물리적인 반응이 내부보다 먼저 일어나는 곳으로 최근 섬유 제품을 비롯한 고분자 소재, 반도체, 금속 세라믹 등 여러 분야의 산업이 발전하면서 재료의 표면 측정 및 분석이 큰 비중을 차지하고 있다. 특히 섬유제품은 표면과 색상의 외부 가속환경의 변화에 대한 직접적인 정량적 평가의 필요성이 커지고 있는 상황이다. 색상과 물성들을 간접적으로 측정함으로써 한계가 있었던 데 비해 직접적인 정량적 평가를 함으로서 더 나은 제품과 프로세스를 더 신속하게 제품 개발과 품질 관리에 적용할 수 있게 되었다. ToF-Mini SIMS를 활용한 표면 특성 분석에는 ▷ Surface Spectrum: 표면의 대상물질 확인 ▷ Surface Imaging: ppm 수준의 물질 분포도 ▷ Depth Profiling: 1nm~1μm 깊이의 물질 분포 ▷ Elemenfal and Molecular Imaging: 표면 또는 단면의 3D 이미지 맵 등이 포함된다.

김경환 기자
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